Aktyw Forum

Zarejestruj się na forum.ep.com.pl i zgłoś swój akces do Aktywu Forum. Jeśli jesteś już zarejestrowany wystarczy, że się zalogujesz.

Sprawdź punkty Zarejestruj się

częstotliowść próbkowania

mercy
-
-
Posty:1
Rejestracja:22 paź 2010, o 13:36
Lokalizacja:z daleka
częstotliowść próbkowania

Postautor: mercy » 22 paź 2010, o 13:38

Nie wiem czy temat zakładam w odpowiednim dziale, ale ten wydaje mi się najbardziej odpowiedni.
Ćwiczenie wyglądało tak:
generujemy sygnał sinusoidalny f=200Hz i A=1V. Dokonujemy pomiaru RMS za pomocą miernika uniwersalnego. Wynik porównujemy z RMS oscyloskopu.
Schemat...
~230V---Zasilacz---Generator SVAN 401---Woltomierz AC, V
Chyba każdy wie o co chodzi. Wskazania z oscyloskopu, który jest poza schematem ćwiczenia mieszczą się w przedziale 702mV - 708mV. RMS z miernika uniwersalnego dla:
200Hz - 0,708V
1000Hz - 0,697V
5000Hz - 0,563V
10000Hz - 0,424V
20000Hz - 0,306V

Fakty: Oba urządzenia sa cyfrowe, sygnał analogowy został zastąpiony sygnałem cyfrowym - próbkowanie. Zamieniamy na sygnał dyskretny.
Częstotliwość próbkowania jest różna.
Miernik - mierzymy do 400Hz > częstotliwość próbkowania to najprawdopodobniej 1000Hz [1000 próbek na sekundę].
Oscyloskop - 200MHz, a więc 200 000 000 Hz, podzielone przez 20 000Hz, co daje nam ok 10 000 próbek.
Z tego wszystkiego wynika, że częstotliwość próbkowania nie została dostosowana do częstotliwości urządzenia.
Czy to myślenie jest poprawne?
Jak mam wyjaśnić to, że wraz ze zwiększaniem f, RMS na mierniku uni jest coraz mniejsza? Wiem, że mam potrzebne fakty, ale chciałabym, żeby ktoś dokładniej mi to opisał, zobrazował. Nie wiem jak sformułować wniosek na tej podstawie. Z jakiego twierdzenia skorzystać? Jak go użyć?
Liczę na wyrozumiałość, pozdrawiam ;)

zaba
-
-
Posty:12
Rejestracja:3 paź 2010, o 21:51
Lokalizacja:Zakliczyn

Postautor: zaba » 22 paź 2010, o 23:07

Podaje kolega na wejście sinusoidę i niech kolega zauważy, że miernik mierzy najprawdopodobniej na niskiej częstotliwości, około 2 razy większej niż maksymalny mierzony sygnał, czyli mierzy bardzo rzadko sygnał mając mało wyników do porównania, natomiast w oscyloskopie ilość tych pomiarów może być ogromna, co daje lepsze parametry, pyzatym rzadko zdarza się żeby mierniki uniwersalne miały dobre parametry a to ze względu na rodzaj pomiaru często nieoddający do końca rzeczywistości przez uproszczenia konstrukcyjne, więc wszystko zależy od aparatury

Awatar użytkownika
Darlington
-
-
Posty:574
Rejestracja:12 lis 2007, o 18:18
Lokalizacja:stąd!

Postautor: Darlington » 22 paź 2010, o 23:20

Hasła na dzisiaj: częstotliwość Nyquista, aliasing

Awatar użytkownika
pajaczek
Moderator
Moderator
Posty:2653
Rejestracja:24 sty 2005, o 00:39
Lokalizacja:Winny gród

Postautor: pajaczek » 23 paź 2010, o 11:55

O ile pamiętam, to kilka miesięcy temu w EP był artykuł (czy nawet seria) opisująca podejście do pomiarów w tym cyfrowych, tam też było wyjaśnione dlaczego tak się dzieje, co to są wartości szczytowe, RMS, True RMS, pomiary sygnałów innych niż sinusoida i częstotliwość Nyquista.

Żaba, z tym oscyloskopem to tylko po części się zgadza. Mierniki mają na tyle dobre parametry, na ile jesteśmy w stanie zapłacić za lepszy sprzęt. Są mierniki jak tu, z częstotliwością graniczną 400Hz, ale są i z taką sięgającą MHz.
A tak między nami, mercy, to chyba jednak koleżanka jak już.

zaba
-
-
Posty:12
Rejestracja:3 paź 2010, o 21:51
Lokalizacja:Zakliczyn

Postautor: zaba » 24 paź 2010, o 12:57

A przepraszam nie zauważyłem

Wróć do „Elektronika - tematy dowolne”

Kto jest online

Użytkownicy przeglądający to forum: Obecnie na forum nie ma żadnego zarejestrowanego użytkownika i 51 gości